存储器检测仪基本上是采用功检测试原理制成，为了实现功能测试，他由生产图案的专用计算机（微型机或小型机）加上接电口电路定时装置，I/O装置及电源灯组成。
测试团存储器是存储器测试仪的核心设备，用一下测图案和标准信息。目前，产生测试图案的方法主要有：1.由专门的图案生产系统产出，存入测试仪存储器内，然后输给被测存储器作为测试码；2.由测试仪随机产生测试图案，并自动控制测试数据的循环；3.由测试仪软件自动产生测试图案，并控制对存储器进行测试。
测试图案存储器是有测试台内的专用小型计算机（或维修计算机）构成。它产生的测试图案存入自己的存储器中，然后由控制循环使用。接电口路包括将输入图案变为输入波形的“波形选择器”，以及为实现输入、输出信息电平转换的驱动器以及其连接电路。定时装置用以产生各种输入波形的多路相脉冲，先同脉冲等时序信号：
在选择或评价一台存储器测试仪时主要考虑如下几项指标：
1.测试仪的速度 测试仪的速度选用133MHz或66MHz或33MHzHAISHI 25MHz?应当根据所需完成测试的时间来确定。若采用快速测试仪需要12s。若采用较慢速度测试仪则要花费2min。测试仪精度主要依赖于基准测试仪的速度。
2.支持多重平台 大多数测试仪不可能仅采用一个测试单元就能同时支持EDODRAM和PC133 SDRAM DLMM测试。应当了解测试仪的兼容性，将现有测试仪升降来满足各种不同类型存储器的测试需要。
3.配件/适配件 了解适配器的使用范围，以确保满足各种不同类型存储器的测试需要，如Sun Spare （200）10/20/UItra、PUMCIA存储器。图形SGRAM Apple模块，栈式集成电路存储器等。
4.错误信息显示 测试仪错误信息是如何显示的，能可以提供详尽的故障信息。是否可以与计算机通信。拓展测试仪的编程功能。
5.可编程性能 测试仪能否可以编写SPD程序、设置程序、测试模式程序。
6.现场更新换代 疾患所有小型测试仪均不肯能升级到进行高速的DDR和Rambus存储器的测试。
存储器测试仪鞥对静态和动态MOS存储器进行比较严格的功能检查。当存储器电路出现故障时，能比较准确的进行故障定位，并显示如下的故障信息。
1.存储器的故障定位信息。
2.出错指令地址。
3.所执行的测试程序段名称或程序段序号
4.被测存储器的出错电源地址。
5.正确操作数和错误操作数
这时，操作人员可以按照输出的故障信息，更换有关存储器组件，调试辅修机器。对于其他故障，如齐偶校检错。动态MOS存储器刷新时限错等，还能输出故障类型，为诊断、修复存储器提供有效信息。他可以利用测试系统设置的六条命令，随时干预测试过程，灵活地安排测试内容和执行方式，以诊断和定位故障。
